独立显卡检测工具升级:可查每颗显存温度,揪出散热隐患

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据 fast 科技 8 月 3 日消息,知名硬件监控工具 HWiNFO 近期透露, 会在最新版本里提升温控传感器支持, 首度许可用户监测显卡内每一颗显存颗粒的单独温度, 这次更新不但针对现有的 AMD 和英伟达显卡, 还预先适配了下一代硬件标准。

当下, 显卡显存一般采用GDDR6、GDDR6X或者GDDR7规范, 然而, 在传统的监测软件里, 用户平常仅仅能够看到一个平均值, 或者是整体温度, 根本没办法去监测是不是存在局部温度过高这种状况。

新功能上线之后, 用户能够借助单芯片进行分别读数, 用户可以确切定准因散热贴移位或者冷头压力欠缺致使的单点过热情况。

简而言之, 要是某一颗显存的温度, 明显高于别的颗粒, 一般来讲, 这意味着导热垫没贴紧, 安装螺丝压力不均衡, 又或者是散热器底座在设计方面存在着形变。

HWiNFO显存颗粒独立温度监测_HWiNFO显卡单点过热检测_独立显卡检测工具

依据开发日志显示, 此功能会对AMD Navi架构家族进行全方位覆盖。从理论角度来讲, 其涵盖范围直至RX 5000到RX 9000系列。针对英伟达用户而言, 新版同样会支持GDDR6X以及GDDR7显存颗粒的独立测温, 并且会正式把对Blackwell架构热点温度的监测纳入其中。

不仅如此, HWiNFO还顺便提升了对新硬件的识别本事, 这其中涵盖了Radeon RX 9060 XT LP以及RX 9050。

目前HWiNFO官方尚未公布该更新的具体发布日期。

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